LTE終端所用最新規(guī)范簡介 FCC認(rèn)證

　　2012年末，美國聯(lián)邦通信委員會(FCC)發(fā)布了多項關(guān)于PBA(Permit But Ask)和LTE SAR的更新測試規(guī)范KDB文件。這包括《KDB 941225 D05 V02》和《KDB 447498 D01 Mobile Portable RF Exposure v05》。其的主要變更如下：

序號	測試規(guī)范內(nèi)容	需要PBA	不需要PBA
	按照新規(guī)范KDB 941225 D05 V02進(jìn)行的LTE設(shè)備SAR測試		Ö
	制造商可按照舊規(guī)范KDB 941225 D05 V01進(jìn)行測試，直至2012年12月31日	Ö
	頻道帶寬為80+80MHz或160MHz的802.11ac SAR測試	Ö
	SAR測試方法在2.0GHz以上增加了測試精度，測試時間約長15%
	KDB 941225 D05 V02與V01的主要區(qū)別在于LTE測試從中頻的50%QPSK中間偏移和QPSK 1RB 上/下偏移為主，改為低/中/高頻的QPSK 1RB或QPSK 50%上/中/下偏移為主
	容積掃描SAR	Ö
	帶有P-傳感器的平板電腦	Ö
	按照新規(guī)范KDB 941225 D05 V02進(jìn)行的LTE設(shè)備SAR測試，增加容積掃面SAR	Ö

　　新KDB文件將在2013年1月1號正式開始使用，在2013年1月1號以后提交的FCC申請需要按照新KDB來進(jìn)行測試。
　　文件中指出能按照《KDB 941225 D05 V02》指導(dǎo)文件完成的LTE設(shè)備：如USB數(shù)據(jù)卡、手機(jī)，該類LTE設(shè)備不需要走PBA流程�！禟DB 941225 D05 V02》與“V01版本”的主要區(qū)別在于LTE測試從中頻的50%QPSK中間偏移和QPSK 1RB 上/下偏移為主，改為低/中/高頻的QPSK 1RB或QPSK 50%上/中/下偏移為主。
　　新《KDB 447498 D01 Mobile Portable RF Exposure v05》對SAR測試方法、測試門限、多發(fā)射機(jī)評估做了新定義，主要依據(jù)是功率大小和使用距離來判定。
　　《KDB 447498 D01 Mobile Portable RF Exposure v05》定義了做SAR測試的距離和功率的門限指標(biāo)：

MHz	5	10	15	20	25	30	35	40	45	50	mm
150	39	77	116	155	194	232	271	310	349	387	SAR Test Exclusion Threshold (mW)
300	27	55	82	110	137	164	192	219	246	274
450	22	45	67	89	112	134	157	179	201	224
835	16	33	49	66	82	98	115	131	148	164
900	16	32	47	63	79	95	111	126	142	158
1500	12	24	37	49	61	73	86	98	110	122
1900	11	22	33	44	54	65	76	87	98	109
2450	10	19	29	38	48	57	67	77	86	96
3600	8	16	24	32	40	47	55	63	71	79
5200	7	13	20	26	33	39	46	53	59	66
5400	6	13	19	26	32	39	45	52	58	65
5800	6	12	19	25	31	37	44	50	56	62

　　多發(fā)射機(jī)評估根據(jù)典型的10mm距離測試來判斷。表格空白處SAR測試值如高于0.4W/kg，則必須要對多發(fā)射機(jī)進(jìn)行評估。

MHz	10	25	50	100	150	200	mW	Min. Distance
150	0.1	0.1	0.3				77	10(mm)
300	0.1	0.2	0.4				55
450	0.1	0.2					45
835	0.1	0.3					33
900	0.1	0.3					32
1500	0.2						24
1900	0.2						22
2450	0.2						19
3600	0.3						16
5100	0.3						13
5400	0.3						13
5800	0.3						12

　　以上內(nèi)容就是主要針對LTE終端在FCC認(rèn)證中是使用的最新KDB規(guī)范內(nèi)容的簡要說明。LTE設(shè)備是第四代移動通訊終端，其的技術(shù)復(fù)雜性相對第三代和第二代移動通信設(shè)備有大幅提升。摩爾實(shí)驗室(MORLAB)目前已經(jīng)開展了針對FDD和TDD方式的LTE終端測試，目前可針對LTE終端完成其的OTA、RF、EMC、SAR、Safety、吞吐量、待機(jī)時間等性能測試要求，并已為部分客戶完成了LTE設(shè)備的GCF，CE和FCC認(rèn)證。